x射線衍射分析粉末法的原理
更新時間：2021-03-05 點擊次數(shù)：4943次
由于粉末多晶衍射儀使用的是多晶（粉末）樣品，因此，其衍射譜不是由一條一條的衍射線組成，而是由具有一定寬度的衍射峰組成，每個衍射峰下面都包含了一定的面積。如果把衍射峰簡單地看作是一個三角形，那么峰的面積等于峰高乘以一半高處的寬度。這個半高處的高度有個專門名詞，稱為“半高寬”，英文寫法是FWHM。如果采用的實驗條件*一樣，那么，測量不同樣品在相同衍射角的衍射峰的FWHM應當是相同的。這種由實驗條件決定的衍射峰寬度稱為“儀器寬度”
如果樣品為退火粉末，則無應變存在，衍射線的寬化*由晶粒比常規(guī)樣品的小而產生。這時可用謝樂方程來計算晶粒的大小。
Size=Kλ/[FW(S)*COS(θ)
式中Size表示晶塊尺寸（nm），K為常數(shù)，一般取K=1，λ是X射線的波長(nm)，F(xiàn)W（S）是試樣寬化(Rad)，θ則是衍射角(Rad)。
計算晶塊尺寸時，一般采用低角度的衍射線，如果晶塊尺寸較大，可用較高衍射角的衍射線來代替。晶粒尺寸在30nm左右時，計算結果較為準確，此式適用范圍為1-100nm。超過100nm的晶塊尺寸不能使用此式來計算，可以通過其它的照相方法計算。
其它的參考《MDI Jade使用手冊》。
X射線衍射方法是當今研究物質微觀結構的主要方法之一。由于其波長小，頻率高，在醫(yī)學等很多領域有廣泛應用。
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